日本JEOL掃描電鏡燈絲

日本JEOL掃描電鏡燈絲

用于電子探針 JXA-iHP200F 機(jī)器

核心參數(shù)

儀器種類(lèi)：落地式/傳統(tǒng)大型

電子槍種類(lèi)：熱場(chǎng)發(fā)射

產(chǎn)地類(lèi)別：進(jìn)口

二次電子圖象分辨率：2.5nm

放大倍數(shù)：40-300,000

加速電壓：1-30kV

背散射電子圖像分辨率：高襯度

最大樣品尺寸：100mmX100mmX50mmH

樣品室可拓展接口數(shù)量：多個(gè)

樣品臺(tái)：五周馬達(dá)驅(qū)動(dòng)

檢測(cè)器系統(tǒng)：背散射探頭、波譜儀、能譜儀

電子探針顯微分析儀越來(lái)越多地被用作鋼鐵、汽車(chē)、電子元件和電池材料等各種工業(yè)領(lǐng)域的研發(fā)和質(zhì)量保證工具。 它還廣泛應(yīng)用于地球和行星科學(xué)以及材料科學(xué)，

并有望為各種前沿研究做出貢獻(xiàn)，例如礦物和材料研究等資源和能源研究，以及各種新材料的材料研究。 相應(yīng)地，在保持較高的局部痕量元素分析性能的同時(shí)，

要求每個(gè)人都“輕松"和“快速"地使用儀器。

JXA-iHP200F 和 JXA-iSP100 是集成的 EPMA，經(jīng)過(guò)進(jìn)一步改進(jìn)，可滿足這些需求，并使從觀察到分析的操作更加高效。

* EPMA是Electron Probe Microanalyzer的縮寫(xiě)。

電子探針是電子光學(xué)產(chǎn)品中*進(jìn)行準(zhǔn)確定量分析的儀器，利用波譜的高分辨率和能譜的高速度，可以很快將材料中的成份進(jìn)行精準(zhǔn)分析。